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특성분석센터 / 보유장비 소개

X-ray & 표면 분석

  • D/MAX-2500/PC(XRD)(X-선회절기)

    XRD, X-ray 회절을 이용한 무기 재료의 구조 분석, Muiti purpose attachment
    화합물의 정성, 정량, 격자구조 해석, 고온 XRD, Residual stress, Pole figure

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5958/5427

  • D8 Discover With GADDS(XRD) (X-선회절기)

    2D XRD, X-ray 회절의 2D image를 이용한 각종 시료의 구조 분석
    잔류응력 측정, 국소부위 분석(Micro diffration), Texture, Fast mapping

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5958/5427

  • Sol-X (X-선회절기)

    XRD, X-ray 회절을 이용한 무기 재료의 구조 분석, 금속 및 철계 시료 측정
    Solid state Energy dispersive detector, Low background(Iron & metal sample)

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5958/5427

  • Lynx Eye(Linear detector) (X-선회절기)

    XRD, X-ray 회절을 이용한 무기 재료의 구조 분석, 고속 & 고출력 측정
    Energy dispersive detector, Fast measurement & high intensity

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5958/5427

  • In-situ XRD (고-저온 X-선회절기)

    온도 조절 XRD : 고온(25℃ ~ 1400℃) , 중저온(-198℃ ~ 300℃)
    Phase transformation, Thermal expansion, Lattice parameters, Residual stress & Inter diffusion

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5958/5427

  • HR-XRD (고분해능 X선회절기)

    고분해능 X-ray 회절을 이용한 박막 시료의 구조 분석
    XRR(X-ray reflectivity), Rocking curve, In-plane, RSM(Reciprocal space mapping)

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5958/5427

  • SAXS (소각 X선 회절기)

    저각 X-ray 산란 측정 (Small-angle X-ray scattering)
    Particle shape, Internal structure of particle, Surface to volume ratio

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5958/5427

  • XRF (X선 산란장치)

    형광 X-ray를 사용한 각종 시료의 성분 분석 ([Fluorine(9)~Uranium(92)]
    미지시료의 정성 분석 및 정량 분석, Micro mapping

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5958/5427

  • AUGER nanoprobe (오제이 전자분광기)

    원소분석, 표면성분의 정량분석, 원소의 깊이분포도 측정, SEM 이미지,
    화학적 결합상태 측정

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5974

  • TOF-SIMS (비행시간형 이차이온 질량분석기)

    고체표면의 무기 및 유기 성분분석, 원소의 깊이 분포도 측정, 이차이온 이미지,
    동위원소 측정

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5977

  • Dynamic SIMS (동적 이차이온질량분석기)

    고체표면의 무기 성분분석, 원소의 깊이분포도, 반초체 도핑원소 정량분석,
    표면이미지 측정

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5984

  • AFM (원자현미경)

    표면형상 이미지, 표면마찰력, 마모 측정, 표면탄성 및 점성 측정, 전기적 특성 측정,
    세포이미지

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5976

  • XPS (X-선 광전자 분광기)

    고체표면의 원소분석, 화학결합상태 분석, 정량분석, 이미지 맵핑 일함수 측정, 수직분포(Depth profile) 정량분석

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5975

  • EA (탄소, 황 원소분석기)

    금속, 세라믹등 무기재료 내의 C,S 성분분석
    The CS600 Carbon/Sulfur system is designed for wide-range measurement of carbon and sulfur content of metals, ores, ceramics, and other inorganic materials.

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5427

  • XAFS(A1):R-XAS (X선 흡수 분광기)

    X-ray absoption을 이용한 Electronic structure 분석
    Valence state measurement, Absorption , Transmission ,Fluorescence

    분석기기문의 : Tel 02-958-5958/5427

화학 분석

  • Q-TOF LC/MS/MS (초고성능액체크로마토그래프-고분해능 질량분석기)

    유기물 분자이온확인을 위한 고분해능 질량분석기로서 초고성능액체크로마토그래피로
    분리하여 미지물질, 합성신약, 천연물, 혈액, 생체시료 대사체분석 등에 활용

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5980

  • CHNS & O analyzer (탄소,수소,질소,산소, 황) 원소분석기

    유기물, 유무기 하이브리드 재료내의 C, H, N, S & O 성분분석

    분석기기문의 : Tel. 02-958-6830

  • TG-DTA (열중량-열시차 동시분석기)

    상온 ~1500 ℃까지 중량변화 및 DTA, DSC를 동시에 측정, 열안정성, 성분비,
    산화도 분석

    분석기기문의 : Tel. 02-958-6830

  • FT-IR (푸리에변환 적외선분광기)

    유기합성물, 유무기 하이브리드 물질 등의 구조분석 및 정성 분석
    미세물질, 오염물질 분석, Library search 및 해석

    분석기기문의 :

  • GC/MS (기체 크로마토그래프-질량분석기)

    비휘성유기물 분석, 재료,환경,생체시료로부터 유기물성분을 추출후 분리하여
    정성 및 정량

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5980

  • HPLC (고성능액체크로마토그래피)

    각종 유기성 시료의 고온 분해성 시료중 유기 성분분리 및 분석,
    식품이나 환경 시료중의 극미량 유독성 잔류물질의 분리 및 분석

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5963

  • IC (이온크로마토그래피)

    이온성 유기 무기 화합물들의 분리, 정성 및 정량분석

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5963

  • ICP-OES (iCAP 6000) (유도결합플라즈마 분광분석기)

    원자방출분광법을 이용하여 환경, 생체 및 재료시료에서 특정 무기원소의 ppm~wt%
    정량분석에 활용.

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5968

  • ICP-OES (ICP OES 720) (유도결합플라즈마 분광분석기)

    원자방출분광법을 이용하여 환경, 생체 및 재료시료에서 특정 무기원소의 ppm~wt%
    정량분석에 활용.

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5968

  • ICP-QMS (유도결합 플라즈마 사중극자 질량분석기)

    반도체, 지질, 환경, 생체시료 등에서 무기원소를 ppb이하 농도까지 정성,
    정량분석에 활용.

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5968

  • ICP-SCMS (고분리능 유도결합 플라즈마 질량 분석기)

    반도체, 지질, 환경, 생체시료 등에서 무기원소를 ppt이하 농도까지 정량분석에 활용.

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5968

  • AAS (원자흡광분석기)

    원자흡수분광법을 이용해 환경, 생체 및 재료시료에서 특정 무기원소를 ppm~wt%
    정량분석에 활용.

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5968

  • DMA (자동 수은 분석기)

    원자흡광광도계를 이용한 수은 직접분석에 활용

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5967

  • UV-Vis-NIR (자외선, 가시광선, 근적외선 분광광도기)

    투과율, 흡광도, 정반사, 난반사를 175~3300nm까지 액체, 고체 샘플에 대해 측정에
    활용

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5968

  • Femto-second LA (펨토세컨 레이저 애블레이션)

    펨토초 단위의 레이저를 ablation하여 전처리가 비교적 쉽게 되지않는 다양한 시료를
    단시간에 정성, 정량 분석에 활용.

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5968

  • 400 MHz FT NMR (400 MHz 핵자기 공명분광기)

    유기, 무기, 고분자 화합물의 분자구조 규명

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5965

  • 600 MHz FT NMR (600 MHz 핵자기 공명분광기)

    유기, 무기, 고분자 화합물의 분자구조 규명
    단백질, 핵산, 탄수화물 등의 생체분자 3차원 구조 규명

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5965

  • 800 MHz FT-NMR (800 MHz 핵자기 공명분광기)

    단백질, 핵산 등의 생체분자 3차원 구조 규명

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5996

전자현미경 분석

  • TEM (Titan) (투과전자현미경)

    미세구조 분석 – TEM, Cs-corrected STEM, SADP / 원소 분석 - EDS, EELS(Dual EELS), EFTEM / 특수 기능 - Lorentz, Monochromator, 저전압(80kV)

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5986

  • TEM (Talos F200X) (투과전자현미경)

    미세구조 분석 – TEM, STEM, SADP / 원소 분석 – Super X EDS / 특수 기능 – Tomography, DPC

    분석기기문의 : Tel. 02-958-4940

  • TEM (Tecnai F20) (투과전자현미경)

    미세구조 분석 – TEM, STEM, SADP / 원소 분석 - EDS, EELS, EFTEM / 특수 기능 – Astar/Top-spin(TEM EBSD), Holography, Mechanical/Electrical in-situ Holder

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5983

  • TEM (Cryo Tecnai F20) (극저온투과전자현미경)

    미세구조 분석 – TEM, STEM, SADP / 원소 분석 – EELS, EFTEM / 특수 기능 – Tomography, Cryo Holder, 생체시료 관찰

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5987

  • FIB (Nova 600) (접속이온빔)

    TEM 시편제작, 2차 전자 이미징, 단면 밀링, 후방산란 전자 이미징, 회로 수정, 전극 증착, 나노 패터닝, 3D 구조 분석

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5985

  • FIB (Helios) (접속이온빔)

    TEM 시편제작, 극저온 시편제작, 단면 밀링, 이미징, 패터닝, 회로 수정, 전극 증착,
    슬라이스앤뷰, EBSD 방위분석, EDX 조성분석

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5539

  • FIB (Quanta 3D) (접속이온빔)

    4-Probe, I-V 측정, 저진공 이미징, 저온 스테이지, 진공 수송 장치,
    나노와이어 픽업 및 인장, EDS 조성분석, TEM 시편제작, 단면 밀링, 나노 패터닝

    분석기기문의 : Tel. 02-958-6973

  • Nova SEM (주사전자현미경)

    Low voltage HR image, STEM image, Low voltage image

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5972

  • Inspect F50 (주사전자현미경)

    SEM 이미지 관찰(1.0nm), EDS분석( 정성/MAP/LINE분석),
    VCD(3kv이하에서 BSE 이미지 관찰), ICD(1kv에서 SEI이미지관찰)

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5973

  • Inspect F (주사전자현미경)

    전자선이 시료면 위를 주사(scanning)할 때 시료에서 발생되는 여러 가지 신호 측정, 시료의 나노구조분석(ETD,BSE Image) 및 EDS분석(X-ray,정성 및 정량분석)

    분석기기문의 : Tel. 02-958-4944

  • Hitachi - SEM (주사전자현미경)

    SEM이미지 관찰 및 EDS분석(정성/MAP/LINE분석). BSED를 이용한 후방산란전자
    영상수집, SE 이미지를 이용한 3차원 이미지 구현(3D-SEM)

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5973

  • E-SEM (환경주사전자현미경)

    수분을 함유하고 있는 물질. 생체재료 등을 전도성 coating없이 저진공 상태에서
    2차 전자상 관찰

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5972

  • EPMA (전자탐침미량분석기)

    SEM 이미지(SEI/BSE) 관찰 및 WDS를 이용한 정성 및 정량분석/MAP/LINE분석(원소의 분포도 측정)

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5540

  • Raman (라만분광기)

    레이저빔을 이용하여 분자 진동 스펙트럼 측정을 통한 시료의 정성 분석 및 화학적 구조 분석 (Point,Map analysis)

    분석기기문의 : Tel. 02-958-4944

  • 3D Atom probe (3차원원자탐침 단층 촬영기)

    sub-nm 수준의 공간 분해능, 10ppm 수준의 검출 능력, 3차원 조성 분석 기법, 수소,
    리튬 포함 모든 원소 분석

    분석기기문의 : Tel. 02-958-4946

  • TEM sampling: materials (금속/세라믹 TEM 시편제작)

    Tripod, PIPS, 수~수십 um 대면적 TEM 시편제작, 저온 이온 밀링,
    이온빔 모듈레이션 기능, 평면 TEM 시편제작, 대면적 단면 연마

    분석기기문의 : Tel. 02-958-6972

  • EM Sampling (생체,고분자 시편 제작)

    샘플링 – 생체조직(탈락세포, 배양조직), 고분자 필름, 액체시료, Epoxy 포매, (Cryo)Ultra-microtome, Stain / 특수 장비 – 동결고정(HPM100), 저온포매(EM AFS2, Freeze Substitution), Plunge freezing(Vitrobot)

    분석기기문의 : Tel.02-958-5987

  • TENEO V.S (주사전자현미경)

    -Secondary electron image -Backscattered electron image -Low vacuum mode (LVD) -In-lens BSE and SE detectors (T1, T2) -Serial block-face SEM (Volume Scope) -Large area imaging (MAPS)

    분석기기문의 : Tel.02-958-5540

가속기 분석

  • 6 MV ion beam Accelerator (6MV 이온빔 가속기)

    Accelerator mass spectrometry를 이용한 연대측정, 추적자 분석
    nuclear microprobe를 이용한 micro-pixe HR-RBS, TOF-ERD를 이용한 원소의 비파괴 정량 분석/ Duoplasmatron, SNICS 이온원을 이용한 이온빔 주입/조사(0.3~50 MeV)

    분석기기문의 : Tel. 02-958-6758 / 담당자 : 김재열

  • 2 MV ion beam Accelerator (2MV 이온빔 가속기)

    RBS/channeling, PIXE, ERD를 이용한 원소의 비파괴 정량 분석
    SNICS, Alphatros 이온원을 이용한 이온빔 주입/조사(30~100 keV or 0.5~10 MeV)

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5995 / 담당자 : 송재봉

  • 400 kV ion beam Accerlaerator (400kV 이온빔 가속기)

    MEIS를 이용한 표면 원자 구조 및 조성 분석
    SO-55, SO-90 이온원을 이용한 이온빔 주입/조사(50 ~ 400 keV)

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5094 / 담당자 : 임원철

  • Accelerator Mass Spectrometry: AMS (가속기 질량분석기)

    가속기질량분석법은 탄소연대측정과 같은 고고학 분야, 극미량의 방사성 동위원소를 추적자로 사용한 생-의학 분야, 고기후의 연구 또는 지형의 변화연구와 같은 지구과학, 그리고 지하수 오염원의 추적, 핵물질의 감시 등과 같은 환경과학 분야

    분석기기문의 : Tel. 02-958-6758 / 담당자 : 김재열

대형장비

  • Synchroton radiation Beamline (방사광)

    화학결합상태, 분자결합 배향, 국소미세 구조, 산화 상태, 최종상태의 상태 밀도, 전하이동

    분석기기문의 : Tel. 054-279-1192 / 담당자: 채근화

  • KIST-USANS (ultra small angle neutron scattering) (중성자 극소각산란)

    클러스터 및 동공의 크기와 모양 분석
    생체소재, 멤브레인, 폴리머 구조 분석

    분석기기문의 : Tel. 02-958-5395