FE-SEM(Hitachi) 이미지

FE-SEM(Hitachi)

Model
Hitachi (S-4200)
Location
L5145
Tel
02-958-5973

FE-SEM (Field Emission Scanning Electron Microscope) provides highly magnified surface images by scanning the surface of a specimen with a very fine electron beam.

Specifications

  • Source : Cold cathode FEG

  • Resolution : 1.6 nm (15 kV)

  • Magnification : 20 ~ 500,000 X

  • Accelerating voltage : 0.5 ~ 30 kV

Applications

  • SE / BSE image

  • EDS

  • 3D SEM (MEX program)

Application examples

예약가능 예약불가

장비명

FE-SEM(Hitachi)

예약날짜

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예약현황

    운영 및 예약 시간 안내

    오전 09:00 ~ 12:00 오후 13:00 ~ 18:00 예약자가 있는 시간대는 예약불가입니다.