제목
[공지] 제 1회 현미경을 이용한 전기계측 워크숍 안내
작성자
관리자
등록일
2017-11-21
조회수
1094
첨부파일

안녕하십니까? 한국과학기술연구원(KIST) 특성분석센터입니다.

우리 센터에서 현미경을 이용한 전기적 특성 분석 기법에 대해 소개하는 자리를 마련하였습니다.

현미경에 Nano-Probing 기술을 접목시켜 표면 및 미세 구조 분석뿐만 아니라 전기적 특성 분석을 통한 저전류 계측 기반 연구 분야를 소개함으로써 여러분들의 연구에 도움을 드리고자 합니다. 또한, 저전류 계측 시 높은 정밀도 및 분석의 신뢰성을 얻기 위해 필요한 분석 변수들을 파악함으로써 연구의 질을 향상 시키고자 합니다. 많은 분들의 관심과 참여 부탁드립니다. 감사합니다.


- 일시 : 2017년 12월 14일(목)

- 장소 : 한국과학기술연구원(KIST), L5223호

- 대상 : 산업체 및 연구소 연구원, 대학원생

- 인원 : 총 30명(선착순)

- 등록 : 담당자에게 참가신청서 작성 후, 메일 접수 (참가신청서 별첨)

- 문의 : 김양희(02-958-6973, yhkim1022@kist.re.kr)