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[공지] ToF-SIMS 장비 업그레이드 및 수리로 인한 분석업무 일시중단 안내 (6.20~7.13)- 재가동 되었습니다.
작성자
관리자
등록일
2018-07-04
조회수
200
첨부파일


[ToF-SIMS 장비 업그레이드 및 수리로 인한 분석업무 일시중단 안내]




1. 목적

장비 업그레이드 (Bi nanoprobe) 및 스테이지 모듈 수리


2. 중단 일시 (계획)

6월 20일부터 ~ 7월 13일까지





안녕하세요. 특성분석센터 ToF-SIMS 담당자 김선희입니다.

ToF-SIMS를 이용해 주시는 모든 분들께 감사인사 드립니다.


더 좋은 성능의 장비로 더 나은 서비스를 제공하고자  기존의 Bi 이온건을 Bi nanoprobe 로 교체하고 있습니다.

기존의 분석빔보다 단위면적당 1차 이온빔의 전류 밀도가 높고, 빔사이즈가 작아서,

미량 성분의 빠른 분석과 이미지 맵핑시 고해상도 (~50 nm, Al+)의 분석이 가능해집니다.

(자세한 내용은 첨부파일 참고)




새로운 예약을 하실 분은 7월 16일(월) 이후에 전화해주시면 되고,

기존 예약이 7월 20일(금)까지 채워져 있으니, 7월 23일(월)부터 예약일 선택이 가능합니다.


빠른 시일내로 정상화하여 더나은 분석 서비스를 제공하도록 노력하겠습니다..



감사합니다.


문 의 : 김선희 (02-958-5977, 구조표면팀 블로그 http://tofsims.blog.me )
          이연희 (02-958-5971)